SMT制程温控难控、虚焊频发? 红外热像仪,PCB热缺陷一站式可视化检测利器

发布日期:2026-06-05 17:29:55   来源 : 拓邦特    作者 :曾庆珲    浏览量 :5
曾庆珲 拓邦特 发布日期:2026-06-05 17:29:55  
5

01. 行业痛点:60%电子不良源于温度异常

随着电子产品微型化升级,BGA、QFN、0201微型元件成为SMT主流,高达60%的电子不良故障直接源于温度异常波动,是生产良率的核心制约因素。


有以下原因:


02. 解决方案:非接触全域红外成像技术

配套SMT全流程专用红外热像仪,聚焦PCBA通电检测与新品热设计验证核心场景,无需接触即可捕捉整板全域温度场,从源头规避传统单点测温的盲区与滞后性。


 全球尖端硬件

主芯片采用

韩国SAMSUNG四核芯片

探测器采用

法国Lynred红外探测器

FPGA采用

美国Xilinx可编程逻辑器件

电源芯片采用

美国Texas Instruments芯片

                                          翻倍帧频,捕捉细微的温度变化

                         全辐射帧频提升至60H2,感受更流畅、更清晰的图像!

  • 研发专用测试台,轻松实现升降、旋转、固定等实用调节动作

  • 20um、50μm和100um可选镜头,助力用户获取微观结构温度分布热图及详细温度数据

  • 手动对焦设计,更有利于精细准确对焦,以便获取精准热图

应用案例

                        FOTRIC热像仪搭配20μm微距镜拍摄电极蚀刻


电子设备的可靠性、寿命与温度紧密相关。电路板,尤其是功率电路的发热受设计、器件选型、散热设计、生产工艺等因素影响,需要大量测试与优化,以保证推向市场的产品性能稳定。


以上内容来自拓邦特推送
订阅
关于我们
热门推荐
合作伙伴
免责声明:本站部分资讯来源于网络,如有侵权请及时联系客服,我们将尽快处理
Copyright © 2025-2027 ToB产业网址导航 公安备案 浙公网安备33010602013138号 浙ICP备16025413号-9
支持 反馈 订阅 数据